耿良元副主任医师
南京脑科医院 神经外科
1.高热惊厥是一种在儿童中比较常见的现象,多发生于6个月至5岁的儿童,伴随高烧时容易出现。它的发病率约为2%至5%。
2.高热惊厥一般分为简单型和复杂型两类。简单型持续时间短(少于15分钟),没有局部神经功能缺损,也没有反复发作,而复杂型可能持续时间较长或有局部症状。
3.大多数情况下,高热惊厥被认为是良性的,也就是说,它不会导致长期的健康问题。这就是为什么当进行磁共振成像等详细的检查时,结果通常显示正常。
4.磁共振成像是一种非侵入性的诊断工具,用来详细查看大脑的结构。在高热惊厥的背景下,磁共振成像主要用于排除其他可能的神经系统疾病,如脑膜炎、脑炎或颅内出血等。
虽然高热惊厥会让人感到恐慌,但大多数情况下不会对大脑造成持久损害。若磁共振结果正常,应遵循医生的建议并继续观察孩子的健康状况。